Back to Top

Sie sind hier

Contamination Standards

Absolute Contamination Standards

  • Substrate Deposited Polystyrene Latex Spheres
  • For use with Scanning Surface Inspection Systems (SSIS)

Edge Contamination Standards

  • Edges of Substrate Deposited Polystyrene Latex Spheres
  • For use with Edge Contamination Detection Systems

Reticle Contamination Standards

  • Spheres deposited on photomasks / test plates
  • For use with reticle and pellicle inspection systems

Silica Contamination Standards

  • Substrate Deposited highly spherical Silica Spheres
  • For use with Advanced Scanning Surface Inspection Systems (SSIS)

Wir möchten Sie gerne darüber informieren, dass wir Cookies verwenden um Ihnen eine angenehme Nutzung unserer Webseite zu bieten. Sie erklären sich mit diesem Vorgehen einverstanden indem Sie hier auf “Zustimmen” klicken. Weitere Informationen dazu finden Sie in unseren Datenschutzrichtlinien.