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Events

Workshop Fehleranalyse für die Mikroelektronik in Theorie und Praxis

Erhalten Sie einen Überblick der aktuellen Methoden und der Werkzeuge in der Fehleranalyse und erleben Sie einzelne FA-Systeme in einer Live-Demonstration.

Ort: Fraunhofer EMFT, Hansastraße 27d, 80686 München

 

TAG 1 (30.01.2024):

Get-together am Anreisetag ab 18:00 Uhr. Location wird noch bekanntgegeben. Ungezwungener Austausch der Teilnehmer und Experten.

TAG 2 (31.01.2024)

8:45 Uhr Registrierung mit Brezn Empfang

9:30 Uhr Offizielle Begrüßung (EMFT/JPK)

10:15 Uhr Überblick Fehleranalyse I (Andreas Schupp / JPK)

10:45 Uhr Pause

11:05 Uhr  Topography and Deformation Measurement (Dr. Pierre Vernhes / INSIDIX)

11:35 Uhr Überblick Fehleranalyse II (Nicola Kovac / EMFT)

12:05 Uhr Mechanical Decapsulation (Jim Colvin / Ultratec)

12:35 Uhr Pause

14:00 Uhr Labtour EMFT und Talk to the experts in 6 Themenfeldern

                (Laser Decap, Mechanical Decap, Chemical Decap, TDM, REM, ESD)

16:00 Uhr Pause

16:20 Uhr Abschluss Diskussion und Feedback

16:50 Uhr Verabschiedung

 

Kosten: 190 € zzgl. MwSt (inklusive Abendessen am Vortag, Verpflegung am Schulungstag, Schulungsunterlagen und Teilnahmezertifikat). Stornierung kostenfrei bis 04.01.2024, danach Stornogebühr 70%. Eine Vertretung des Teilnehmers ist möglich.

Buchung: Per Email order@jpkummer.eu

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News

At ISTFA, Rosine GERMANICUS presented a paper about "SiC MOSFET micro-explosion due to a Single Event Burnout: analysis at the device and die levels". We at JPK Group are proud that we could support this paper with sample preparations conducted with a micro milling tool from our principle ULTRA TEC.

Please contact us for the complete paper or interest in Failure Analysis, Sample Preparation or FA Workshop on January 31, 2024 in Munich.

Contact: sales_de@jpkummer.eu

For device qualification in harsh environments (space, avionic and nuclear), radiation testing identifies the sensitivity of the devices and technologies and allows to predict their degradation in these environments. In this paper, the analysis of the electrical characteristics and of the failure of a commercial SiC MOSFET after a Single Event Burnout (SEB) induced by proton irradiation are presented. The goal is to highlight the SEB degradation mechanism at the device and die levels. For failed devices, the current as a function of the drain-source bias (VDS) in off-state (VGS=0V) confirms the gate rupture. For the die analysis, Scanning Electron Microscopy (SEM) investigations with energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDX) analysis reveals the trace of the micro explosion related to the catastrophic SEB inside the SiC die. With a fire examination, similar to a blast, the SEM analysis discloses damages due to the large local increase of the temperature during the SEB thermal runaway, leading to the thermal decomposition of a part of the SiC MOSFET and the combustion with gaseous emissions in the device structure.

The JP Kummer Group is glad to introduce our new partner eInnoSys

 

 

 

 

 

eInnosys is a leading provider of automation and software solutions for the manufacturing industry. With a focus on Factory & Assembly Automation, Equipment Software, Industry 4.0, AI/ML, and predictive maintenance, the company has developed innovative and patented products in these areas. As a leader in the field of smart manufacturing and industrial automation, eInnosys specializes in upgrading legacy equipment and implementing predictive maintenance solutions to drive efficiency and productivity. The company’s expertise in AI/ML enables them to analyze data and provide predictive insights, helping their clients to stay ahead of the competition.

Wir haben vom 24.12.2021.- 01.01.2023 Betriebsurlaub. Während dieser Zeit ist unser Büro nicht besetzt und es findet kein Versand statt. Ihre Anfragen und Aufträge bearbeiten wir gerne wieder ab dem 02.01.2023.

Wir haben vom 15.08.2022.- 19.08.2022 Betriebsurlaub. Während dieser Zeit ist unser Büro nicht besetzt und es findet kein Versand statt. Ihre Anfragen und Aufträge bearbeiten wir gerne wieder ab dem 22.08.2022.

Wir sind dankbar für die erfolgreicher Zusammenarbeit mit unserem Partner Wentworth Laboratories und das uns entgegengebrachte Vertrauen, so dass wir künftig ihre Produkte auch in den Niederlanden anbieten dürfen.

Wir freuen uns auf noch viele gemeinsame Projekte!

Wir haben vom 24.12.2021.- 10.01.2022 Betriebsurlaub. Während dieser Zeit ist unser Büro nicht besetzt und es findet kein Versand statt. Ihre Anfragen und Aufträge bearbeiten wir gerne wieder ab dem 10.01.2022.

We are proud to announce that nTact/ FAS Holdings Group was recently selected by the DOE for a Perovskite-Silicon Tandem Cell Development Project.

Please find more information in Area 2 Manufacturing an R&D:

Solar Energy Technologies Office Fiscal Year 2020 Perovskite Funding Program | Department of Energy

We are sorry to announce the passing of our dear friend and the founder of our group of companies, Hans-Peter ‘John’ Kummer.

John was legendary in the semiconductor equipment business and was known and respected around the world. He founded John P Kummer AG in Zug, Switzerland in 1975 and the rest, as they say, is history.

John: Your warmth, wisdom and diplomatic skills will never be replaced.

John Kummer
26.04.1927 – 03.04.2021
 

Vom 24.12.2020 - 06.01.2021 ist unser Betrieb geschlossen.

Wir wünschen Ihnen Frohe Weihnachten und ein erfolgreiches neues Jahr!

Vielen Dank für die Zusammenarbeit in diesem turbulenten Jahr!

 

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